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Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires


Tesis (Bachelor), 2011

58 Páginas, Calificación: 1,0


Extracto


Contents

Abstract

1 Introduction

2 Theory
2.1 Scanning Tunneling Microscopy
2.2 Scanning Tunneling Spectroscopy
2.3 Nanowires
2.4 Quantum dots

3 Experimental background
3.1 Setup
3.2 Sample preparation
3.3 Tip production
3.4 Vacuum conditions

4 Results and Discussion
4.1 Cleaning
4.1.1 Surface
4.1.2 Nanowires
4.2 Imaging
4.2.1 InAs(111)B surface
4.2.2 InAs nanowires grown without gold particle
4.2.3 InP with InAs quantum well nanowires
4.2.4 InP with InAs quantum dots nanowires
4.3 Spectroscopy
4.3.1 InAs(111)B surface
4.3.2 Defect induced influence on spectra

5 Conclusion and Outlook

Bibliography

Acknowledgements

Final del extracto de 58 páginas

Detalles

Título
Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Universidad
LMU Munich
Calificación
1,0
Autor
Año
2011
Páginas
58
No. de catálogo
V178801
ISBN (Ebook)
9783656009795
ISBN (Libro)
9783656010494
Tamaño de fichero
4208 KB
Idioma
Inglés
Palabras clave
scanning, probe, microscopy, inas/inp, nanowires
Citar trabajo
Stephan Pröller (Autor), 2011, Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires, Múnich, GRIN Verlag, https://www.grin.com/document/178801

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Título: Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires


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