Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires


Bachelorarbeit, 2011

58 Seiten, Note: 1,0


Leseprobe


Contents

Abstract

1 Introduction

2 Theory
2.1 Scanning Tunneling Microscopy
2.2 Scanning Tunneling Spectroscopy
2.3 Nanowires
2.4 Quantum dots

3 Experimental background
3.1 Setup
3.2 Sample preparation
3.3 Tip production
3.4 Vacuum conditions

4 Results and Discussion
4.1 Cleaning
4.1.1 Surface
4.1.2 Nanowires
4.2 Imaging
4.2.1 InAs(111)B surface
4.2.2 InAs nanowires grown without gold particle
4.2.3 InP with InAs quantum well nanowires
4.2.4 InP with InAs quantum dots nanowires
4.3 Spectroscopy
4.3.1 InAs(111)B surface
4.3.2 Defect induced influence on spectra

5 Conclusion and Outlook

Bibliography

Acknowledgements

Ende der Leseprobe aus 58 Seiten

Details

Titel
Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Hochschule
Ludwig-Maximilians-Universität München
Note
1,0
Autor
Jahr
2011
Seiten
58
Katalognummer
V178801
ISBN (eBook)
9783656009795
ISBN (Buch)
9783656010494
Dateigröße
4208 KB
Sprache
Englisch
Schlagworte
scanning, probe, microscopy, inas/inp, nanowires
Arbeit zitieren
Stephan Pröller (Autor:in), 2011, Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires, München, GRIN Verlag, https://www.grin.com/document/178801

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